NewView™ Series NewView ™ Series 는 0.08nm의 분해능을 가지는 비 접촉 3차원 표면형상측정기(3D Profiler, Coherence Scanning Interferometer)입니다. 이 장비는 미세 표면 형상(Surface profile,
Topography) 및 조도(Roughness)를 측정하는데 주로 사용되며, 초당 32~171㎛의 속도로 수 초 내에 측정됩니다. Part Finder기능으로 간섭무늬를 쉽게 찾을수 있으며, Smartsetup Technology를 통해 한번의 클릭으로 측정을 완료할수 있습니다. ▪ 특징 및 주요기능 - Auto Stitching 기능을 이용한 대면적 미세형상 자동측정 - 모든 대물렌즈에서
0.08nm Vertical Resolution - 32~171㎛/s의 고속측정으로 안정적인 데이터 확보 - 새로운 측정기술인
SureScan™ FDA™기술 적용 - All-New Mx™ Software
탑재 - ISO 25178 Surface
Measurement Parameter ▪ 적용 및 응용 분야 - 미세한 표면 형상 및 조도
측정 - LCD 및 Display 소자 측정 - Color Filter의 RGB 높이 측정. - Glass 또는 Wafer의 Roughness 측정 및 Dust
Inspection - 비구면 렌즈 또는 각종 금형의 Roughness 측정 - Back Light Unit의 Roughness 및 Angle 측정 - Wafer 뒷면의 Packaging 또는 Laser Marking을 위한 Roughness 측정 - MEMS device 및 정밀
표면 - 자동차 (Automobile) 부품 및 재료 측정 - Solar Cell 의 Texture 및 전극(Finger) 측정
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