Thin Film Analysis(TFA) Device

 

 

190 – 2200nm 파장대역을 사용하는 산업용 In-Line Spectrometer입니다. 높은 재현성으로 투과 / 반사율, 박막 두께, Color Coordinator 데이터를 실시간으로 측정하여 생산라인에 적합합니다.

 

 

 특징 주요기능                           

 

 

-      ms 이내 모든 스펙트럼 측정

-      190-2200nm의 넓은 파장

-      박막 두께(10nm-50um), 면저항, 수분함수량, 색 측정

-      생산라인(In-line) Vacuum Chamber 내 사용

-      실험실 연구용 구성으로 사용 가능

 

 

 

 

적용 응용분야                           

 

Industries

Application

Printed Electronics

ITO, OPV, PEDOT:PSS on PET

Roll-to-roll coater(R2R)

Reflection/transmission characteristics

ITO, OPV, PEDOT:PSS on PET

Semiconductors

SiO2 / Si3N4 layer thickness on Si

Band gap of doped layers

Glass

ITO on float glass

Photovoltaic

Conducting layers on CIGS

OPV on PET

Automotive

Moisture of PVB interlayers

Color of Varnish

Paper

Moisture content


 


 


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