|
Thin Film Analysis(TFA) Device
190 – 2200nm 파장대역을 사용하는 산업용 In-Line Spectrometer입니다. 높은 재현성으로 투과 / 반사율, 박막 두께,
Color Coordinator 데이터를 실시간으로 측정하여 생산라인에 적합합니다.
|
특징 및 주요기능
-
수 ms 이내 모든 스펙트럼 측정
-
190-2200nm의 넓은 파장
-
박막 두께(10nm-50um), 면저항, 수분함수량, 색 측정
-
생산라인(In-line) 및 Vacuum Chamber 내 사용
-
실험실 연구용
구성으로 사용 가능
|
|
적용 및 응용분야
Industries
|
Application
|
Printed Electronics
|
ITO, OPV, PEDOT:PSS on PET
|
Roll-to-roll coater(R2R)
|
Reflection/transmission characteristics
|
ITO, OPV, PEDOT:PSS on PET
|
Semiconductors
|
SiO2 / Si3N4 layer thickness on Si
|
Band gap of doped layers
|
Glass
|
ITO on float glass
|
Photovoltaic
|
Conducting layers on CIGS
|
OPV on PET
|
Automotive
|
Moisture of PVB interlayers
|
Color of Varnish
|
Paper
|
Moisture content
|
|
|
|