T-Solar®

 

 

태양광 Application에서 사용할 수 있는 Ellipsometer입니다. Textured Mono, Multicrystalline Substarates에 증착된 ARC Organic PV Materials 의 두께 및 광학상수(굴절률, 흡수율 n,k)를 측정합니다.

 

특징 및 주요기능

 

* RCE(Rotating Compensator Ellipsometer) Technology

* 자체 특허Compensator Design

* CCD detector를 이용한 빠른 측정 속도(1-5)

* UV~NIR (193~1690nm) 700개 파장 동시 측정

* 시료에 따른 Intensity 최적화 기능

적용 및 응용분야

 

* Textured Mono and Multicrystalline Substrates

* ARC on Cell (SiNx, AlNx….)

* Transparent Conductive Oxide (ITO, ZnOx, AZO…)

* a-Si, μc-Si, poly-Si

Spectral Range


제품검색 바로가기 목록