RC2^®

비등방성 측정(Muller Matrix) 및 모든 Application에 최적화된 Ellipsometer 입니다. Thin Film(박막)의  두께 및 광학상수(굴절률, 흡수율 n,k)를 빠른 속도(0.3초)로 측정합니다.

특징 및 주요기능

* Dual Rotating Compensator Technology

* 자체 특허Compensator Design

* Mueller Matrix 16개 모든 항목 측정

* 비등방성(anisotropy) 측정

* CCD detector를 이용한 빠른 측정 속도(0.3초)

* UV~NIR (193~2500nm) 1000개 파장 동시 측정

적용 및 응용분야

* Anisotropy Application

* Complete Mueller-matrix

* Liquid Crystal