V-VASE^®

모든 물질 연구에 사용되는 다목적 장비 이며 193 ~ 4000nm 까지 광범위한 영역에서 Thin Film(박막)의 두께 및 광학상수(굴절률, 흡수율 n,k)를 측정합니다.

특징 및 주요기능

* RAE(Rotating Analyzer Ellipsometer) Technology

* 자체 특허Auto-Retarder Design

* Monochromator Design

* DUV~MIR (193~4000nm) 파장 영역 0.03nm 단위 측정

적용 및 응용분야

* Optical Coating

* Laser Optics

* Thin Films

* Semiconductors

* Photosensitive Materials