Home > 제품소개 > J.A.Woollam
RC2®
비등방성 측정(Muller Matrix) 및 모든 Application에 최적화된 Ellipsometer 입니다. Thin Film(박막)의 두께 및 광학상수(굴절률, 흡수율 n,k)를 빠른 속도(0.3초)로 측정합니다.
특징 및 주요기능
* Dual Rotating Compensator Technology
* 자체 특허Compensator Design
* Mueller Matrix 16개 모든 항목 측정
* 비등방성(anisotropy) 측정
* CCD detector를 이용한 빠른 측정 속도(0.3초)
* UV~NIR (193~2500nm) 1000개 파장 동시 측정
적용 및 응용분야
* Anisotropy Application
* Complete Mueller-matrix
* Liquid Crystal
제품검색 바로가기 목록