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RC2-XF [Ellipsometer_J.A. Woollam]
  • 등록일 : 201908301640
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제 품 종 류

 Spectroscopic Ellipsometer

     

 J.A.Woollam (USA) 

      

 RC2-XF

측 정 항 목

 두께 (수 Α ~ 1μm), 광학 상수 n,k

        

 측정 파장 영역 : 245nm ~ 1000nm

 입사각 : 65˚ (Fixed)

 Spot Size : 25um X 60um (단축 X 장축)

제 품 소 개

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측 정 문 의

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