ESSENTOPTICS
Spectrometer electronics
Spectrometer 제작 및 개발에 필요한 electronics 보드를 제공합니다. (Preamplifier, A/D conversion, Interfacing, Electronic Multiplexing, Cooling Controller)
MultiSpec® UV-VIS-NIR
190 - 2200nm 파장을 측정 할 수 있는 표준형 Spectrometer입니다.
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Optical Thickness Gauge-157
빛을 이용한 실시간 비접촉 정밀 두께 측정기. Glass, 필름, 콘택트렌즈의 두께(16㎛ – 40㎜)를 측정하는 장비 입니다.
NewView ™ Series
3차원형상측정기 0.08nm 분해능의 백색광 간섭계로, 미세 표면 형상, 조도(roughness) 및 박막의 표면 측정에 사용됩니다.
Nexview ™ NX2
Full Auto 3차원형상측정기 0.06nm 분해능의 Full Auto 백색광 간섭계로, 미세 표면 형상, 조도(roughness) 및 박막의 표면 측정에 사용되며, Real Color Image 구현이 가능합니다.
ZeGage™ Pro
진동에 무관한 3차원형상측정기 SureScan™ 기술을 이용하여 방진테이블 없이도 측정이 가능한 신기술 3차원 형상측정기이며 산업현장에 사용하기 적합합니다.
APM 650™
대면적 3차원형상측정기 650mm 대형스테이지를 적용한 백색광 간섭계로, PCB Panel, Display, Semiconductor 분야의 대면적 제품을 측정합니다.
Verifire™ Series
광부품 및 렌즈 측정기 Fizeau 타입의 Phase Shifting Interferometer로, 렌즈 및 광부품의 표면 형상 오차, 수차, 곡률반경 및 불균일도를 측정합니다.
Verifire™ HD
광부품 및 렌즈 측정기 고해상도 고속 카메라를 장착하여 진동의 영향을 받지 않는 Common-Path의 Phase Shifting Interferometer 입니다.
Dynafiz™
실시간 무진동 Fizeau간섭계 최신 기술인 DynaPhase™를 이용하여 극도의 진동과 Air Turbulence 가 있는 환경에서도 측정이 가능하여, 실시간으로 대구경 미러 또는 렌즈의 표면 형상 측정 및 광학계 정렬(align)에 사용됩니다.
IR Verifire
IR간섭계 3.39um, 10.6um 파장의 광원을 사용하는 PSI 간섭계로 Defense 및 Aerospace Application에 사용됩니다.
Verifire™ XL
대구경 Fizeau간섭계 대구경 미러 또는 대형 Wafer Chuck을 한번에 측정할 수 있는 대구경 Vertical간섭계입니다.
Large Aperture System
대구경 Fizeau간섭계 대구경 미러 또는 대형 Wafer Chuck을 한번에 측정할 수 있는 대구경 간섭계입니다. 12 inch (300mm), 18 inch (450mm), 24 inch (600mm), 32 inch ( 800mm)
ZMI™ Series
초정밀 스테이지 제어용 간섭계 스테이지의 위치 정밀도를 수nm이하로 제어하는 변위측정간섭계입니다.
Software
Spectrum 측정 및 처리를 위한 각종 Software와 개발용 Software Development Kits(SDKs)을 제공합니다.
Accessories
실험실 및 생산 라인에서 사용 가능한 측정 probe, Measurement Head, Fiber optics, Reference Standard, 기타 optics 등 Accessories를 제공합니다.
Spectral Sensor
190 - 2200nm까지 다양한 type의 Carl Zeiss OEM Spectrometer Modules을 사용자의 요구에 맞게 선택할 수 있습니다. (MMS, CGS, MCS FLEX and PGS Spectral Sensors)
MultiSpec® Raman
기존 실험실에서 수행되는 정성분석을 생산 라인에서 수행할 수 있는 산업용 Raman Spectrometer입니다.
tecSpec
컴팩트한 Spectrometer로, 연구용은 물론 장비 개발이나 산업용으로 사용합니다.
CompactSpec®II
화학, 제약, 반도체 및 플랜트 등 생산 라인 모니터링에 최적화된 Spectrometer 이며, 방폭, 방진, 방수 기능으로 파이프, 튜브, 반응 용기 등의 환경에서 사용합니다.
TFM-1
렌즈 컬러 측정 전용 장비로, CIE L*a*b*, C*h* 등 국제표준규격 컬러 및 UV-VIS 투과율을 측정합니다.
HandySpec®
병이나 드럼 등에 담겨진 액체의 컬러 측정에 사용되는 휴대용 spectrometer입니다.
tecSaaS
플랫폼 내장형 장비이며, 별도의 PC없이 공정관리에 필요한 결과 값만을 송수신 가능한 OEM Spectrometer입니다.
TFA(Thin Film Analysis) Device
산업용 In-Line Spectrometer. 190 - 2200nm 파장에서 투과&반사율, 두께, Color Coordinator를 실시간으로 측정할 수 있어 생산라인에 적합합니다.
RT-30
휴대가 간편한 감마핵종분석기. 방사선원 종류 및 선량을 현장에서 빠르고 간편하게 측정이 가능합니다.
Optical Thickness Gauge-137
빛을 이용한 실시간 비접촉 두께 측정기. Glass, 필름, 콘택트렌즈의 두께(35㎛ – 40㎜)를 측정하는 장비 입니다.
Photon RT
UV-VIS-MIR. 다양한 각도에 따른 투과,반사율 측정기 한번의 loading으로 별도의 조작 없이 자동으로 여러 각도의 투과, 반사율을 측정하는 Spectrophotometer (185-5200nm) 입니다.
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Nexview™ 650
대면적 3차원형상측정기 650mm 대형스테이지를 적용한 백색광 간섭계로, PCB Panel, Display, Semiconductor 분야의 대면적 제품을 측정합니다.
AOM CGH
Computer Generated Hologram ( CGH ) 홀로그램 패턴은 비구면, 자육곡면, 실린더 형상 등 측정하기 까다로운 형상을 빠르고 간편하게 측정가능하도록 설계됩니다.
소형 프레임 선반 Small Frame Lathes
Nanoform X는 광학 렌즈, 금형 인서트, 거울 및 정밀 기계 부품의 다이아몬드 선삭, 밀링 및 연삭 작업에서 생산성과 사용 편의성을 높이도록 설계되었습니다. 기계는 2축에서 4축까지 구성하여 최대 직경 440mm의 구형, 비구면 및 자유형 표면을 생성할 수 있습니다.
대형 프레임 선반 Large Frame Lathes
대형 프레임 선반의 유연성과 소형 프레임 선반의 품질이 필요합니까? Nanoform® 700 ultra는 1nm Ra의 산업 최고의 표면 조도 사양을 가집니다. 이것의 고유한 700mm 스윙과 선택적 170kg 하중 용량은 그 수준의 성능을 발휘할 수 있는 가장 큰 초정밀 가공 시스템을 만듭니다
자유가공 Freeform
Precitech은 필드에서 입증된 당사의 대형 프레임 플랫폼에 혁신적인 수직 축을 추가하여, 유연성과 정밀도를 높였습니다. 자유곡면 L을 사용하면, 고객들은 다이아몬드 터닝, 미세 밀링, 미세 연삭을 할 수 있고 비회전 대칭 가공면에 그루브를 가공할 수 있습니다. 이 세 번째 직선 축을 추가하면 2 개의 직선 축 가공을 사용하여 달성할 수 없는 자유 형상 가공면들을 생성할 수 있는 유연성을 사용자들에게 제공합니다.
플라이 커터 Fly Cutters
광학 품질의 표면 및 평탄도 특성들을 요구하는 비철 재질에서 평면들의 단일 포인트 다이아몬드 플라이 컷팅을 위해 설계된 중부하 기계 플랫폼.
DIFFSYS CAM Software
DIFFSYS® 는 정밀 CNC 머신, 특히 다이아몬드 터닝 머신에 광학 가공면을 생성하는 윈도우즈® 프로그램입니다. 이것은 주로 비구면, 회절 격자, 프레넬 및 하이브리드 용으로 개발되었으며, 3D 표면 (비원형 대칭), 특수 툴 구성 및 또한 측정 수정을 포함하여, 현재 다양한 방향으로 확장되었습니다.
Photon RT 7512
LWIR. 다양한 각도에 따른 투과,반사율 측정기 한번의 loading으로 별도의 조작 없이 자동으로 여러 각도의 투과, 반사율을 측정하는 Spectrophotometer (7.5um~12.5um) 입니다.
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LINZA 2752
별도의 액세서리의 장착 및 교체 없이 렌즈의 투과율, 반사율 및 흡수율을 2.7um-5.2um 까지의 파장대역에서 빠르고 편리하게 자동으로 측정할 수 있는 All-in-one system입니다.
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RT-50
5분 이내에 식품이나 원재료 속에 들어있는 감마핵종의 종류와 양을 측정할 수 있는 측정기기 입니다.
GT-40
민감도와 정확도 그리고 휴대성과 편의성까지 갖추고 있는 다용도 감마핵종분석기.
LINZA 150
별도의 액세서리의 장착 및 교체 없이 렌즈의 투과율, 반사율 및 흡수율을 185-1700nm 까지의 파장대역에서 빠르고 편리하게 자동으로 측정할 수 있는 All-in-one system입니다.
Optical Monitoring System
ESSENTOPTICS의 Optical Monitoring system은 사용하는 용도에 따라 Monochromator type의 AKRA와 Spectrometer type의 IRIS system 중 선택 하실 수 있으며, 다양한 환경에서 안정적이고 편리한 솔루션을 제공합니다.
PrimaScan
나노미터 이하의 코팅 필름, 미크론 이하의 파티클, 스크래치, 핏츠( ), 범프 및 기타 결함에 대한 전체 표면 스캔 및 이미징을 지원합니다.
PrimaScan P
나노미터 이하의 코팅 필름, 미크론 이하의 파티클, 스크래치, 핏츠( ), 범프 및 기타 결함에 대한 전체 표면 스캔 및 이미징을 지원합니다.
Celero-PL
나노미터 이하의 코팅 필름, 미크론 이하의 파티클, 스크래치, 핏츠( ), 범프 및 기타 결함에 대한 전체 표면 스캔 및 이미징을 지원합니다.
optonas | about us
리투아니아 최대 광학부품, 코팅 전문 회사로, 다양한 분야에 최적의 광학 부품을 공급합니다.
WOP | about us
WOP [Workshop Of Photonics] 펨토초 레이저 가공 설비 및 가공 서비스를 제공합니다. TGV(레이저&에칭), 커팅, 드릴링 등 다양한 분야에서 사용됩니다.
PrimaScan R&D
나노미터 이하의 코팅 필름, 미크론 이하의 파티클, 스크래치, 핏츠( ), 범프 및 기타 결함에 대한 전체 표면 스캔 및 이미징을 지원합니다.
Quarifire
Qualfire는 Zygo의 새로운 Fizeau 타입의 레이저 간섭계로 품질 보증 및 재품 생산 후 성능 평가 및 분석에 더욱 용이 해진 간섭계 입니다.
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M-2000® Ellipsometer
모든 Application에 적용 가능한 Ellipsometer. Rotating compensator 기술이 적용된 Ellipsometer로, 193-1690nm의 파장에서 측정이 가능합니다. Thin Film, Bulk materials, Dielectrics, Semiconductors, Polymers, Metals, Display, Bio, 태양광 등의 다양한 분야에서 사용됩니다.
SHSOphtalmic Prio
일반 콘택트렌즈나 토릭렌즈(Toric lens) 그리고 인공수정체(IOL)의 품질관리에 필요한 디옵터(Power)나 직경 등의 특성들을 한 장비에서 단 한 번의 측정으로 얻을 수 있습니다.
RC2® Ellipsometer
비등방성 측정에 최적화된 Ellipsometer. Dual Rotating Compensator 기술이 적용된 Muller Matrix 16개 항을 모두 측정 할 수 있는 Ellipsometer 입니다. 전체파장(190-2500nm)에서 0.3초의 빠른 시간으로 두께 및 굴절률을 측정합니다.
Femto TGV
TGV 전용 펨토초 레이저 가공설비이며 510 x 515 mm 제품 가공 가능합니다. TGV 분야의 폭 넓은 노하우로 다양한 글라스에 사용할 수 있습니다.
알루미늄 미러 | DUV-VIS-NIR
고급 사양의 DUV, UV 맞춤형 알루미늄 미러입니다. 고객 요구에 맞는 UV-VIS-NIR 미러를 제공합니다.
SVR(Space Variant Retarder)
공간가변 위상지연(SVR) 기반 플랫 광학소자로 S-Waveplate(원통형 벡터/보텍스 생성), Flat Axicon(Bessel-Gauss 변환), Flat-Top 변환 등 빔/편광 형상 제어가 가능합니다.
V-VASE® Ellipsometer
Monochromator Type Ellipsometer. Rotating Analyzer 와 Auto-Retarder technology가 결합된 Variable Angle Spectroscopic Ellipsometer입니다. 193 ~ 3200nm 의 파장 대역에서 0.03nm의 spectral resolution을 가지고 있어 연구용으로 적합합니다.
SHSOphtalmic omniSpect
콘택트렌즈의 품질 관리를 위한 All-in-one 전용 장비로 혼자서 1분 안에 모든 항목(직경, 디옵터 등등)을 측정하고 data base화 시킬 수 있습니다.
VUV-VASE® Ellipsometer
Vacuum UV Ellipsometer 146 - 2500nm의 파장에서 측정 가능한 Ellipsometer 입니다. Lithography, ARC applications 에서 사용하는 157nm, 193nm, 248nm 파장 에서의 n, k 를 측정합니다.
SHSOphthalmic autoROC
콘택트렌즈의 tool이나 mold의 곡률반경(ROC)을 자동으로 측정합니다.
IR-VASE® Mark II Ellipsometer
IR 전용 Ellipsometer 1.7 ~ 30 um 의 파장에서 Thin Film 과 Bulk Materials 에 대한 을 측정하는 Ellipsometer 입니다. 특히 Aerospace 및 Defense Application에서 사용됩니다.
SHSInspect
Mirror나 lens나 filter등 광학 부품의 가공상태나 수차등의 광특성을 측정하기 위한 장비입니다.
alpha-SE® Ellipsometer
Compact Design Ellipsometer 초소형, 초간편 구성으로 380 ~ 900nm 파장에서 두께 및 굴절률 측정에 최적화된 Ellipsometer 입니다.
SHSInspect RL module
대구경 미러나 렌즈의 표면 및 정렬을 측정 할 수 있는 이동 가능한 경량화 장비입니다.
SHSlab
Shack-Hartmann Sensor로 광학 부품 평가나 광학계의 정렬 혹은 lasers의 특성 평가 등에 폭 넓게 활용이 가능합니다.
T-Solar™ Ellipsometer
SolarCell 전용 Ellipsometer Photovoltaic application 에 최적화된 Ellipsometer 입니다. Textured Mono, Multicrystalline Substarates 및 Organic PV Materials 등의 sample 측정이 가능합니다.
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iSE Ellipsometer
in-situ 전용 Ellipsometer in-situ박막 공정 실시간 모니터링에 최적화된 Ellipsometer이며, Thin Film(박막)의 두께 및 광학상수(굴절률, 흡수율 n,k)를 측정하는 장비 입니다.
theta-SE Ellipsometer
컴팩트형 300mm mapping Ellipsometer 컴팩트형 300mm mapping Ellipsometer이며, 300mm wafer의 Thin Film(박막)의 두께 및 광학상수(굴절률, 흡수율 n,k)를 측정하는 장비 입니다.
