Alpha-SE^®

초소형, 초간편 구성으로 Thin Film(박막) 의 두께 및 광학상수(굴절률, 흡수율 n,k)를 측정합니다.

특징 및 주요기능

* RCE(Rotating Compensator Ellipsometer) Technology

* 자체 특허Compensator Design

* CCD detector를 이용한 빠른 측정 속도(3-10초)

* VIS (380~900nm) 180개 파장 동시 측정

* 간편한 조작 및 사용 (One touch)

적용 및 응용분야

* Dielectric Films

* Self-Assembled Monolayers

* Absorbing Films

* Coating on Glass

Spectral Range